M6600

OLED I-V-L 신뢰성 테스트 시스템

#OLED #수명 #I-V Scan #다채널 #휘도/CIE #레시피/시퀀스/Eigen Plot


· 상대 수명 테스트

· 에이징 테스트

· 다중 전류 및 포토 전류 범위

· 다중 레시피의 순차적인 구동 방식

· 온도챔버를 사용한 가속 수명 실험

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관련제품

M6600 OLED I-VL 신뢰성 테스트 시스템

다채널 OLED I-V-L 테스트 최적화 시스템

OLED 소자 구동 간 일정 간격으로 I-V-L 측정을 병행하며 OLED 신뢰성 평가를 위한 다양한 분석 파라미터를 제공합니다. 자체 개발된 다채널 I-V-L 장치로 다수의 OLED TEG 시료 구동 및 Photodiode를 통한 광 측정이 가능합니다. 독립 구동하는 다채널 I-V-L 장치로 전압을 스캔하며 전류 및 PD 전류를 측정, I-V-L(PD 전류)를 특성 곡선으로 측정합니다. PD 전류를 이용한 소자 수명 변화에 따른 상대적 I-V-L 변화 데이터 분석과 레시피 조합을 통한 채널별 시퀀스 구성 및 동작 기능을 지원합니다.

상대 수명 테스트

에이징 테스트

다중 전류 및 포토 전류 범위

다중 레시피의 순차적인 구동 방식

온도챔버를 사용한 가속 수명 실험

시스템 구성도

컴포넌트

멀티채널 IVL 테스터

지그 & 지그 프레임

ThermoStation/챔버/UPS

소프트웨어

제품사양

Product NameM6600 OLED I-V-L Reliability Test System
FunctionLifetime Test, Aging Test, IVL Test
Capacity32ch / Unit
Output ModeCV, CC, CL, PV, PC, PCV
VoltageRange±20V
Accuracy±0.05% + 10mV (F.S.R.)
CurrentRange[Range 1] ±1mA / [Range 2] ±10mA (Auto 2-Range Shunt Type)
Accuracy[Range 1] ±0.05% + 1uA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10uA (F.S.R.)
PhotocurrentRange[Range 1] 0uA~10uA / [Range 2] 0uA~100uA / [Range 3] 0uA~1mA (Auto)
Accuracy[Range 1] ±0.05% + 5nA (F.S.R.) / [Range 2] ±0.05% + 10nA (F.S.R.) / [Range 3] ±0.05% + 50nA (F.S.R.)
PulseFrequency Range10 ~ 256Hz / 1Hz Step
Duty1 ~ 99% / 1% Step
Measurement ItemTime, Voltage, Current, Photo-Current, Luminance, CIE
Data BackupAutomatic Data Backup in HW Memory in case of SW Disconnection
InterfaceLAN

OLED & Display | Solar Cell & Photovoltaics | Battery & Electrochemical System | Flexible Electronics & Organic Semiconductor | LED & Optical System

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