T3000 PLUS

전하이동도 측정 시스템

#이동도 #TOF #DIT #CELIV


· 유기 반도체의 전하 운반체 이동

· 전자/정공 이동도 측정

· 전하이동도 (TOF)

· Dark Injection Transient (DIT)

· Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage (CELIV)

· 저온 측정실험

제품문의

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관련제품

전하이동도 측정실험은 유기 반도체 재료의 전하 운반체 특성화 연구에 필수적이며 T3000 PLUS 전하이동도 측정 시스템은 펄스 레이저 및 고속 측정 장치를 기반으로 하는 표준 TOF 실험을 수행합니다. 온도에 따른 전하의 이동도 연구를 위해 선택적으로 저온 장치를 구성할 수 있습니다.

유기 반도체의 전하 운반체 이동

전자/정공 이동도 측정

전하이동도 (TOF)

Dark Injection Transient (DIT)

Charge Extraction by Linearly Increasing

Voltage (CELIV)

저온 측정실험

시스템 구성도

컴포넌트

Nd-YAG 레이저/트리거 유닛

오실로스코프/V-Source/Function Generator/지그

Cryostat/옵티컬 유닛

소프트웨어

제품특징

Model NameT3000 PLUS Time of Flight Measurement System
System OptionS : Standard Option / T : Low Temperature Option / C : Dark Injection & CELIV Function Option
System ConfigurationLaser(Nd-YAG), Oscilloscope, High Voltage Sourcemeter, Signal Amplifier, Loader & Trigger Unit, Optical Unit(Focusing Lens, Beam Splitter, Photodetector,
Sample Mounting Unit, Dark Box & System Frame, (Option) Dye Laser, Probe Unit, Low Temperature Unit(Cryostat, Temperature Controller, Vacuum Accessories)
DimensionSize(mm) : 2,400 x 800 x 1,600 / Weight(kg) : <200kg / Utility : 220V, 15A, 99.999% N2 Gas
SampleOrganic Materials (Electron, Hole)
Sample Size / TypeGlass Size : <50mm x 50mm / Active Area : >2mm x 2mm / Top and Bottom Type
Beam Size<2mm x 2mm
Measure Time Range4nsec ~ 10s/div
Transit Time Min. Measure TimeMin. 1usec
Mobility Measure Range>10-6 cm2/V.sec @ 1um Sample Thickness
Measure/Analysis ItemTransit Time, Mobility, Zero Mobility, E-Field vs Mobility, Temperature vs Mobility

OLED & Display | Solar Cell & Photovoltaics | Battery & Electrochemical System | Flexible Electronics & Organic Semiconductor | LED & Optical System

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