관련제품
발광 이미지 및 레이저 스캐닝을 사용한 태양 전지 검사 장비
태양전지의 내부 결함 및 소자 결함 검사를 위한 전계발광, 광발광, 열화상 및 광선 유도 전류 측정과 같은 다양한 이미징 테스트 솔루션을 제공합니다.
전계발광 이미징
광발광 이미징
LBIC 이미징
Si, Pervoskite, Tandem 이미징
Microcrack, Dark Area 및 Finger Defect 자동 검출
시스템 구성도
컴포넌트
이미징 키트
포토볼틱 파워미터/LD 드라이버
LED850/레이저/PLC
소프트웨어
제품사양
| Model Name | K3300 Solar Cell Imaging Test System |
| System Model | ELX : EL Measurement / PLX : PL Measurement / EPLI : EL+PL / EPLB : EL+PL+ LBIC Measurement / Portable |
| System Configuration | K301 Camera Set, [K103 ELX DC Power Supply : Using ELX], [K310 LD Driver, LED, LASER : Using PLX], Main frame, Box Table |
| [Motion : Using Semi Auto ELX], Controller, PC, ACC | |
| Measure Time | EL : <1sec, PL : <1sec, LBIC : 2 hour (6” Cell) |
| Measurement | Mircro Crack, Hot Spot, Finger Defect, Dark Area, Isc Mapping, Relative Efficiency |
| Dimension | ELX & PLX - [Size : (W) 600mm x (d)1,000mm x (H) 1,800mm / Weight : <100Kg / Utility : 200V, 15A, Air 6 Bar] |
| EPLI & EPLB - [Size : (W) 1,200mm x (d) 1,000mm x (H) 1,800mm / Weight : <300Kg / Utility : 200V, 15A, Air 6 Bar] | |
| Test Sample | Si , Pervoskite, Tandem etc |
OLED & Display | Solar Cell & Photovoltaics | Battery & Electrochemical System | Flexible Electronics & Organic Semiconductor | LED & Optical System
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